韩国XRF-2000X射镀层测厚仪规格

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点击量: 67597 来源: 上海精诚兴仪器仪表有限公司
韩国Micor Pioneer XRF-2000 X射线测厚仪结构功能 器功能 : 測量电镀层厚度系统结构 :箱,用分析电脑,液晶显示屏,色打印尺寸610 x 670 x 600 mm(订制加高型主机箱高度超过600mm)箱重 : 约75 公斤配件重量 : 約 35 公斤样品台承重:5KG以滑鼠移方式,驱动 XYZ 三,步进马达XYZ 片台移动尺寸200 x 150 x 100 mm准直一个可选0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm件包括 视察软件,系统软件包括,测量,统计 系统功能测单层,双层或多层或合金层电镀厚度标准规格自动雷射对焦,XYZ全自XYZ片台,自动调整档案功能,电镀药液测量.元素配.主机箱:输入电压力:AC220V± 10% 50/60HZ沟通方法:RS-232C温度控制:前置放大及机箱温度控制对焦:雷射对焦安全装置:如测量中机箱门打开,X射线0.5秒内自动关闭表面泄漏:少于1usv多通道分析通道数量:1024ch脉冲处理:微电脑高速处理器X射线源X射线管:油冷高压:0-50KV(程控)管电流0-1mA(程控)目标杷:W靶校正及应用:单镀层,双镀层,合金镀层,标准样品再校正2D,3D随机位置测量2D:均距表面测量3D:表面排列处理测量随机位置:任意设定测量点检测器:正比计数器检测器滤片:CO或Ni(选项)X-Y-Z三轴样品台操作模式:高速精密马达,可控制加减速度2D,3D随机定位,鼠标定定,样品台视窗控制,程控定位机箱门打开关闭Y轴自动感应统计功能:打印报告可显示最大/最小值,位移,平均值,标准差,测量位置图片显示及Bar图表等多种测量报表模式可选(可插入公司标志及客户名称)
定性分析:
原素频谱显示,ROI距离定性分析,标签图案显示指标显示:显示原素及测量数值,显示ROI彩**放大功能:局部放大,平均功能:柔和显法频谱视窗大小:无级别式视窗大小.
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